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    • 貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,運用*于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
    • Ux-6200貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149±5eV,運用于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)水平。
    • 貴金屬元素分析儀

      更新日期:2024-12-06

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      貴金屬元素分析儀UX-6200本儀器專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149±5eV,運用*于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。
    • 貴金屬元素分析儀專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,運用*于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素,其穩(wěn)定性和可靠性均處于業(yè)內(nèi)*水平。
    • X熒光重金屬元素分析儀E-max基于HDXRF技術(shù),可快速準確定量分析土壤中鎘等重金屬元素,其*越檢測性能可以滿足中國農(nóng)用土壤監(jiān)管法規(guī)要求(GB15618-2018),檢出限輕松應對鎘元素的法規(guī)限值0.3mg/kg。
    • 貴金屬元素分析儀UX-620本儀器專門針對貴金屬測試,采用的科技分析X熒光光譜,對貴金屬成份進行無損快速分析,該儀器采用Si-PIN探測器,其分辨率為149±5eV,運用*于的基本參數(shù)法,能夠準確無誤地分析出黃金、鉑金等材料中含有的其它少量雜質(zhì)元素。
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